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熱輻射對快速熱電偶測量的影響

更新時間:2017-11-08      更新時間:2017-11-08      點擊次數(shù):1573

熱輻射對疾速熱電偶的丈量的影響

拔出爐內(nèi)用于測溫的熱電偶,將被低溫物體收回的熱輻射加熱。假設(shè)爐內(nèi)氣體是通明的,并且,熱電偶與爐壁的溫差較年夜時,將因能量交流而發(fā)生測溫偏差。 

在單元時光內(nèi),兩者交流的輻射能為P,可用下式表現(xiàn): P=σε(Tw4 - Tt4 ) ,式中 σ—斯忒藩—波爾茲常數(shù) ε—發(fā)射率 Tt—熱電偶的溫度 , K Tw—爐壁的溫度 , K 在單元時光內(nèi),熱電偶同四周的氣體(溫度為T),經(jīng)由過程對流及熱傳導(dǎo)也將產(chǎn)生熱量交流的能量為P′ P′=αA(T-Tt)

上式中 α—熱導(dǎo)率 A— 熱電偶的名義積 在畸形狀況下,P= P′,其偏差為: Tt-T=σε(Tt4-Tw4)/αА ,對單元面積而言其偏差為 Tt-T=σε(Tt4-Tw4)/α ,因而,為了增加熱輻射偏差,應(yīng)增年夜熱傳導(dǎo),并使?fàn)t壁溫度Tw ,盡可能瀕臨熱電偶的溫度Tt。

別的,在裝置時還應(yīng)留神: ①熱電偶裝置地位,應(yīng)盡可能避開從固體收回的熱輻射,使其不克不及輻射到熱電偶名義; ②熱電偶帶有熱輻射掩蔽套。 

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